Agilent Force Spectroscopy Application Note 说明书
应用笔记介绍了原子力显微镜（AFM）光谱学的基本原理和技术，并讨论了用于原子力显微镜光谱学的各种方法。该应用笔记还提供了关于如何使用AFM光谱学技术进行各种材料和应用研究的示例。
厂商: 安捷伦
文件类型: PDF
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上传时间: 2012-06-08 14:53:00
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