Agilent Force Spectroscopy Application Note 说明书

更新: 30 September, 2023

应用笔记介绍了原子力显微镜(AFM)光谱学的基本原理和技术,并讨论了用于原子力显微镜光谱学的各种方法。该应用笔记还提供了关于如何使用AFM光谱学技术进行各种材料和应用研究的示例。


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发布时间: 08 June, 2012

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