Agilent Chiral impurity analysis and enantiomeric excess determination with the Agilent 1260 Analytical SFC system 数据手册
该文件介绍了使用Agilent 1260 Infinity Analytical SFC系统对三种模拟的具有手性化合物进行的光谱分离和手性过量(EE)测定。该系统的低检测器噪声由于SFC泵技术，使得对痕量检测器检测手性杂质具有极高的灵敏度。当应用方法优化时，即使在大量负载条件下也能获得所有化合物的足够分辨率。这使得杂质在0.05到0.1%的水平上进行定量成为可能。
厂商: 安捷伦
文件类型: PDF
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文件校验: BDCF0C9046524A4155EFC25901F94564
上传时间: 2012-06-11 10:01:00
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