Agilent Performance of slide-on Attenuated Total Reflectance accessories - FT-IR Microscopy 说明书
该文件介绍了全反射微弱光谱分析技术(ATR)的原理和应用。ATR技术通过将样品直接与具有比样品折射率高得多的晶体接触，实现光的全内反射，从而简化了样品制备过程。本文通过对涂覆阿司匹林样品进行多次光谱收集，证明了ATR技术的可重复性和晶体对样品的无破坏性。
厂商: 安捷伦
文件类型: PDF
文件大小: 766 KB
文件校验: 5A17E0F4963F89DB9D00674873B172A3
上传时间: 2012-06-11 15:05:00
下载统计: 561
PDF链接: Agilent Performance of slide-on Attenuated Total Reflectance accessories - FT-IR Microscopy 说明书 PDF