Agilent Determination of Trace Impurities in Copper by Axial ICP-OES Application Note
该文档介绍了一种通过轴向观察的顺序ICP-OES来测定高纯铜中的痕量杂质的方法，该方法具有高灵敏度和准确性。
厂商: 安捷伦
文件类型: PDF
文件大小: 41 KB
文件校验: A07B86DF4301AAEDC3A31C7E876ED9A3
上传时间: 2012-06-12 17:09:00
下载统计: 548
PDF链接: Agilent Determination of Trace Impurities in Copper by Axial ICP-OES Application Note PDF