Agilent Determination of 21 Trace Impurities in High-Purity Ammonium Paratungstate by the Agilent High-Matrix Introduction Accessory for the 7500cx ICP-MS
本文介绍了一种使用 Agilent 7500cx ICP-MS 配备高矩阵引入 (HMI) 系统测量高纯度铵偏钨酸盐 (APT) 中 21 种痕量元素的简单、健壮和可靠的方法。HMI 是一种专为高总溶解固体 (TDS) 浓缩样品设计的新样品引入附件。比较使用不同 APT 样品消化方法获得的结果表明，将材料溶解在加热的 4% H2O2 中可最小化磷和硅等难处理元素的干扰形成。直接使用 HMI 的超强型模式分析含 1% TDS 的 APT 样品。结果使用标准添加法 (MSA) 计算。使用 Agilent 7500cx 的标准组件 Octopole Reaction System (ORS) 去除了钙、钾、铁和硅等具有挑战性的元素的干扰。包括样品制备和分析时间在内的短周转时间表明该方法适用于现场测试。
厂商: 安捷伦
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上传时间: 2012-07-02 10:35:00
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