Agilent Considerations in Microarray Scanning - ABRF Poster 2003 说明书
描述了一种针对DNA微阵列扫描仪的性能评估方法。该方法使用标准微阵列指标，如检测极限、信噪比和log(比率)的标准偏差，量化扫描仪的组合误差。还提出了一种方法来测量扫描仪对实验误差的独立贡献。这种方法可以排除其他来源的错误，如阵列合成、杂交、洗涤和生物学。
厂商: 安捷伦
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上传时间: 2012-07-05 10:49:00
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