Agilent Technologies Maximizing MS/MS Fragmentation in the Ion Trap Using CID Voltage Ramping 技术手册
本文件介绍了在三重四极杆和离子阱质谱仪中如何优化碰撞条件，以获得良好、一致的MS/MS结果。
厂商: 安捷伦
文件类型: PDF
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上传时间: 2012-07-05 18:51:00
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