FAIRCHILD Semiconductor AN-7516 应用手册
本应用笔记介绍了一种用于测试无热沉功率MOS晶体管的安全工作区域的方法。该方法不使用热沉，而是依赖于器件封装的热电容（CT），以便在SOA测试期间预测器件外壳的温度。
厂商: Fairchild
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上传时间: 2012-07-12 18:55:00
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